Дослідження низькочастотних складових спектра магнетронного генератора
DOI:
https://doi.org/10.24027/2306-7039.4.2019.195954Ключові слова:
якість, електронні прилади, магнетрон, амплітуда, резонансАнотація
У статті експериментально досліджено резонансні властивості установки для дослідження роботи магнетронів двосантиметрового діапазону довжин хвиль у низькочастотному діапазоні від 100 кГц до 35 МГц.Поліпшення якості електронних приладів є важливим завданням для науковців України, оскільки воно забезпечить підвищення тривалості та надійності функціонування складної апаратури на базі електронних приладів, а також сприятиме підвищенню економічної ефективності виробництва в електронній промисловості.Як об’єкт дослідження було обрано найбільш розповсюджений прилад М-типу — магнетрон. На якість вихідного спектра магнетронів впливають низькочастотні моди коливань, які можуть виникати як у самому приладі, так і в ланцюгах живлення або наводитися з етеру. Висунуто гіпотезу, що паразитні коливання, які можуть погіршувати якість вихідного спектра електронних приладів, зокрема магнетронів, будуть підсилюватися на частотах, за яких спостерігаються резонанси у приладі, ланцюгах живлення і системі в цілому. Експериментальне дослідження спрямовано на визначення частотних діапазонів можливого виникнення цих паразитних коливань.Вимірювальна установка для дослідження роботи магнетронів складається з магнетрона, перетворювача типів хвиль, ватметра поглинаючої потужності та аналізатора спектра. Загальна похибка цієї установки не перевищує 4 дБ.Дослідження резонансних властивостей цієї установки у низькочастотному діапазоні довжин хвиль відбувалося за класичною схемою дослідження резонансних властивостей коливальних контурів. Загальна відносна похибка вимірювань резонансних властивостей не перевищувала ±8 %.У результаті проведення досліджень виявлено яскраво виражений резонансний пік ланцюгів живлення магнетрона в районі 30 МГц, ланцюги живлення розжарення магнетрона мають яскраво виражений резонансний пік у районі 20 МГц, магнетрон має два яскраво виражених піки в районі 5 і 20 МГц та два піки значно меншої амплітуди в районі 15 і 35 МГц, система в цілому має два яскраво виражених піки в районі 10 і 30 МГц.
Посилання
Chekmarjov A. A., Prolejko V. M. Kachestvo, nadezhnost i dolhovechnost elektronnykh priborov [Quality, reliability and durability of electronic devices]. Мoscow, Energiya Publ., 1972. 224 p. (in Russian).
DSTU ISO 9004:2018. Quality management. Quality of an organization. Guidance to achieve sustained success (ISO 9004:2018, IDT). Kyiv, Derzhstandart Ukrainy, 2018. 44 p. (in Ukrainian).
Chen Xin, Nikitenko O. M., Ruzhentsev I. V. Pokaznyky jakosti elektrovakuumnykh system zi skhreshchenymy poljamy [Quality factors of crossed-field electrovacuum systems]. Information Processing Systems, 2011, vol. 6 (96), pp. 72–77 (in Ukrainian).
Chen Xin, Nikitenko О. M., Ruzhentsev I. V. Anode system quality factors of crossed-field devices. Electrotechnic and Computer Systems, 2012, no. 05(81), pp. 154–157.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
ПОЛІТИКА, ЯКА РЕКОМЕНДУЄТЬСЯ ЖУРНАЛАМ, ЩО ПРОПОНУЮТЬ ВІДКРИТИЙ ДОСТУП З ЗАТРИМКОЮ
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи, яка через 12 місяців з дати публікації автоматично стає доступною на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
