КОМПАКТНЕ ЕТАЛОННЕ СВІТЛОДІОДНЕ ДЖЕРЕЛО ВИПРОМІНЮВАННЯ ДЛЯ УЛЬТРАФІОЛЕТОВОГО ДІАПАЗОНУ С

Автор(и)

  • S. V. Nikanenka Інститут фізики імені Б.І. Степанова НАН Білорусі, пр. Незалежності, 68-2, 220072, Мінск, Білорусь
  • A. V. Danilchyk Інститут фізики імені Б.І. Степанова НАН Білорусі, пр. Незалежності, 68-2, 220072, Мінск, Білорусь
  • E. V. Lutsenko Інститут фізики імені Б.І. Степанова НАН Білорусі, пр. Незалежності, 68-2, 220072, Мінск, Білорусь

DOI:

https://doi.org/10.24027/2306-7039.3А.2020.218701

Ключові слова:

ультрафіолет, ультрафіолетовий світлодіод, еталонний джерело випромінювання, вимір

Анотація

У метрологічного забезпечення в УФ-області спектра існує ряд проблем. По-перше, це значне зниження точності передачі розміру величин від національних еталонів відповідних оптичних величин робочим засобам вимірювань в УФ-діапазонах CIE. По-друге, при вимірюванні в УФ-діапазонах CIE необхідно використовувати засоби вимірювань оптичної потужності мають постійну спектральну чутливість всередині цих діапазонів і нульову за його межами, що дуже проблематично через відсутність якісних УФ-фільтрів. По-третє, точність результатів вимірювання оптичних характеристик УФ-випромінювання істотно знижується через відмінності в спектральних розподілах інтенсивності випромінювання випробуваного і еталонного джерел випромінювання. Одним
з перспективних способів підвищення точності вимірювань в УФ-області спектра є використання еталонних джерел випромінювання, створених на основі світлодіодів, завдяки їх стабільності і тривалого терміну служби.

Компактний еталонний джерело ультрафіолетового випромінювання для ультрафіолетового діапазону CIE С, на основі комерційно доступних сучасних світлодіодів, розроблений і виготовлений в Інституті фізики імені
Б.І. Степанова НАН Білорусі. У доповіді розглянута конструкція і результати дослідження оптичних характеристик випромінювання еталонного світлодіодного джерела випромінювання. Щільність потужності компактного еталонного світлодіодного джерела на відстані 500 мм становить
> 200 мкВт / см2, що забезпечує необхідний рівень для калібрування УФ-радіометрів в УФ діапазоні CIE С.

Посилання

Nikanenka S.V., Lutsenko E.V., Danilchyk A.V., Zhdanovski V.A., Kreidzich A.V., Rzheutski M.V. A practical method for determination of averaged spectral radiance of UV LED. CIE 216:2015. Proc. 28th Session of the CIE, Manchester, UK, 28 June – 4 July 2015. – Manchester: CIE, 2015. 2015. Vol. 1. Part 2. P. 1396–1400.

Scums D.V., Danilchyk A.V., Zhdanovskii V.A., Kreidzich A.V., Lutsenko E.V., Nikanenka S.V. New type of source for luxmeters calibration. CIE 216:2015. Proc. 28th Session of the CIE, Manchester, UK, 28 June – 4 July 2015. 2015. Vol. 1. Part 2.

P. 1382–1384.

Nikanenka S.V., Lutsenko E.V., Danilchyk A.V., Zhdanovski V.A., Kreidzich A.V., Rzheutski M.V. Reference hemispherical UVA LED source. New Developments and Applications in Optical Radiometry (NEWRAD 2017): Proc. 13th Internat. Conf., Tokyo, Japan, 13-16 June 2017. 2017. P. 114–115.

Nikanenka S.V., Danilchyk A.V., Dlugunovich V.A., Kreidzich A.V., Rzheutski M.V., Scums D.V., Lutsenko E.V. Reference UV LED Sources. Smart Lightning for Better Life: Proc. Conf. at the CIE Midterm Meeting 2017, Jeju Island, Republic of Korea, 20-28 October 2017. – CIE, 2017. P. 984–989. doi: https://doi.org/10.25039/x44.2017.PO43

Nikanenka S.V., Danilchyk A.V., Lutsenko E.V. Reference UVB and UVC LED sources. Ukrainian Metrological Journal. 2019. № 1. P. 47–53. doi: https://doi.org/10.24027/2306-7039.1.2019.164713

Nikanenka S.V., Danilchyk A.V., Lutsenko E.V. Compact reference UV-LEDs sources with conical diffuse reflectors. CIE x046:2019, Proc. 29th Session of the CIE Washington D.C., USA, June 14 – 22, 2019. 2019. Vol. 1, Part 2, P. 1193–1194/4. doi: https://doi.org/10.25039/x46.2019.PO100

Nikanenka S.V., Danilchyk A.V., Dlugunovich V.A., Zhdanovskii V.A., Kreidzich A.V., Liplianin A.A., Rzheutski M.V., Lutsenko E.V. Setup for measurement of the optical characteristics of UV-NIR solid-state light sources emission. New Developments and Applications in Optical Radiometry (NEWRAD 2014): Proc. 12th Intern. Conf., Espoo, Finland, 24-27 June 2014. 2014. P. 350-351.

##submission.downloads##

Опубліковано

2020-11-30