DOI: https://doi.org/10.24027/2306-7039.1.2015.97977

Відтворення параметрів імпедансу електричних кіл у системах одиниць SI і New SI

Юрій Федорович Павленко, Павло Іванович Неєжмаков, Наталя Михайлівна Маслова, Валерій Володимирович Анікін

Анотація


Розглянуто еволюцію методів відтворення параметрів електричних кіл – від розрахункових до квантових. Для ілюстрації деяких положень використано матеріали досліджень Фізико-технічного інституту Німеччини.


Ключові слова


Параметри електричних кіл; Розрахунковий конденсатор; Квантовий ефект Холла; Міра опору; Постійний струм; Імпеданс; Система SI; Еталон електричної ємності

Повний текст:

PDF

Посилання


Кротков И.Н. Точные измерения электрических емкости и индуктивности / И.Н. Кротков. – М.: Изд-во стандартов, 1966. – 272 с.

Thompson A.M. A new theorem in electrostatics and its application to calculable standards of capacitance / A.M. Thompson, D.G. Lampard // Nature. – 1956. – V. 177, № 4515. – Р. 888.

Lampard D.G. // Proc. IEEE Monograph 216M. – 1957. – 271. – 104 c.

Clothier W. // Metrologia. – 1965. – № 2.

Schurr J. The ac quantum Hall resistance as an electrical impedance standard and its role in the SI / J. Schurr, F. Ahlers, B.P. Kibble // Meas. Sci. Technol. – 2012. – 23. – 124009 (20 pp).

Klitzing K. New method for high accuracy determination of the fine structure constant based on quantized-Hall resistance / K. Klitzing, G. Dorda, M. Pepper // Phys. Rev. Lett. – 1980. – V. 45, № 6. – Р. 494–497.

Кибис О.В. Квантовый эффект Холла / О.В. Кибис // Соросовский образовательный журнал. – 1999. – № 9. – С. 89–93.

Melcher J. Comparison of precision ac and dc measurements with the quantized Hall resistance / J. Melcher, P. Warnecke, R. Hanke // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 1993. – 42. – 292–4.

Kibble B.P. A novel double-shielding technique for ac quantum Hall measurement / B.P. Kibble, J. Schurr // Metrologia. – 2008. – 45. – L25–7.

Schurr J. Realizing the farad from two ac quantum Hall resistances / J. Schurr, V. Burkel, B.P. Kibble // Metrologia. – 2009. – 46. – 619–28.

Progress towards the electron counting capacitance standardat PTB / H. Scherer, S.V. Lotkhov, G.D. Willenberg, B. Camarota // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 2009. – 58. – Р. 997–1002.

Реформа SI і її вплив на систему відтворення електричних одиниць / П.І. Неєжмаков, Ю.Ф. Павленко, Н.М. Маслова, В.В. Анікін // Український метрологічний журнал. – 2013. – № 1. – С. 3–10.

Electrical Units in the New SI: Saying Goodbye to the 1990 Values / N. Fletcher, G. Rietveld, J. Olthoff [et al.] // NCSLI Measure J. Meas. Sci. – 2014. – Vol. 9, № 3. – Р. 30–35.

Державний первинний еталон одиниці електричного опору / Ю.Ф. Павленко, Г.С. Сидоренко, В.В. Анікін [та ін.] // Український метрологічний журнал. – 1998. – Вип. 4. – С. 26–28.

Ахмадов А.А. Перспективы совершенствования системы метрологического обеспечения средств измерений параметров электрических цепей / А.А. Ахмадов, М.Н. Сурду // Український метрологічний журнал. – 1996. – Вип. 4. – С. 23.

Державний еталон одиниць електричної ємності і тангенса кута втрат / О.А. Ахмадов, С.О. Ахмадов, Р.А. Харжевський, М.М. Сурду // Український метрологічний журнал. – 2007. – № 3. – С. 24–30.


Пристатейна бібліографія ГОСТ






УКРАЇНСЬКИЙ МЕТРОЛОГІЧНИЙ ЖУРНАЛ / UKRAINIAN METROLOGICAL JOURNAL

ISSN (Print) 2306-7039

ISSN (Online) 2522-1345