Відтворення параметрів імпедансу електричних кіл у системах одиниць SI і New SI
DOI:
https://doi.org/10.24027/2306-7039.1.2015.97977Ключові слова:
Параметри електричних кіл, Розрахунковий конденсатор, Квантовий ефект Холла, Міра опору, Постійний струм, Імпеданс, Система SI, Еталон електричної ємностіАнотація
Розглянуто еволюцію методів відтворення параметрів електричних кіл – від розрахункових до квантових. Для ілюстрації деяких положень використано матеріали досліджень Фізико-технічного інституту Німеччини.
Посилання
Кротков И.Н. Точные измерения электрических емкости и индуктивности / И.Н. Кротков. – М.: Изд-во стандартов, 1966. – 272 с.
Thompson A.M. A new theorem in electrostatics and its application to calculable standards of capacitance / A.M. Thompson, D.G. Lampard // Nature. – 1956. – V. 177, № 4515. – Р. 888.
Lampard D.G. // Proc. IEEE Monograph 216M. – 1957. – 271. – 104 c.
Clothier W. // Metrologia. – 1965. – № 2.
Schurr J. The ac quantum Hall resistance as an electrical impedance standard and its role in the SI / J. Schurr, F. Ahlers, B.P. Kibble // Meas. Sci. Technol. – 2012. – 23. – 124009 (20 pp).
Klitzing K. New method for high accuracy determination of the fine structure constant based on quantized-Hall resistance / K. Klitzing, G. Dorda, M. Pepper // Phys. Rev. Lett. – 1980. – V. 45, № 6. – Р. 494–497.
Кибис О.В. Квантовый эффект Холла / О.В. Кибис // Соросовский образовательный журнал. – 1999. – № 9. – С. 89–93.
Melcher J. Comparison of precision ac and dc measurements with the quantized Hall resistance / J. Melcher, P. Warnecke, R. Hanke // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 1993. – 42. – 292–4.
Kibble B.P. A novel double-shielding technique for ac quantum Hall measurement / B.P. Kibble, J. Schurr // Metrologia. – 2008. – 45. – L25–7.
Schurr J. Realizing the farad from two ac quantum Hall resistances / J. Schurr, V. Burkel, B.P. Kibble // Metrologia. – 2009. – 46. – 619–28.
Progress towards the electron counting capacitance standardat PTB / H. Scherer, S.V. Lotkhov, G.D. Willenberg, B. Camarota // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 2009. – 58. – Р. 997–1002.
Реформа SI і її вплив на систему відтворення електричних одиниць / П.І. Неєжмаков, Ю.Ф. Павленко, Н.М. Маслова, В.В. Анікін // Український метрологічний журнал. – 2013. – № 1. – С. 3–10.
Electrical Units in the New SI: Saying Goodbye to the 1990 Values / N. Fletcher, G. Rietveld, J. Olthoff [et al.] // NCSLI Measure J. Meas. Sci. – 2014. – Vol. 9, № 3. – Р. 30–35.
Державний первинний еталон одиниці електричного опору / Ю.Ф. Павленко, Г.С. Сидоренко, В.В. Анікін [та ін.] // Український метрологічний журнал. – 1998. – Вип. 4. – С. 26–28.
Ахмадов А.А. Перспективы совершенствования системы метрологического обеспечения средств измерений параметров электрических цепей / А.А. Ахмадов, М.Н. Сурду // Український метрологічний журнал. – 1996. – Вип. 4. – С. 23.
Державний еталон одиниць електричної ємності і тангенса кута втрат / О.А. Ахмадов, С.О. Ахмадов, Р.А. Харжевський, М.М. Сурду // Український метрологічний журнал. – 2007. – № 3. – С. 24–30.
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
ПОЛІТИКА, ЯКА РЕКОМЕНДУЄТЬСЯ ЖУРНАЛАМ, ЩО ПРОПОНУЮТЬ ВІДКРИТИЙ ДОСТУП З ЗАТРИМКОЮ
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи, яка через 12 місяців з дати публікації автоматично стає доступною на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.