Відтворення параметрів імпедансу електричних кіл у системах одиниць SI і New SI

Автор(и)

  • Юрій Федорович Павленко Національний науковий центр "Інститут метрології", Україна
  • Павло Іванович Неєжмаков Національний науковий центр "Інститут метрології", Україна
  • Наталя Михайлівна Маслова Національний науковий центр "Інститут метрології", Україна
  • Валерій Володимирович Анікін Національний науковий центр "Інститут метрології", Україна

DOI:

https://doi.org/10.24027/2306-7039.1.2015.97977

Ключові слова:

Параметри електричних кіл, Розрахунковий конденсатор, Квантовий ефект Холла, Міра опору, Постійний струм, Імпеданс, Система SI, Еталон електричної ємності

Анотація

Розглянуто еволюцію методів відтворення параметрів електричних кіл – від розрахункових до квантових. Для ілюстрації деяких положень використано матеріали досліджень Фізико-технічного інституту Німеччини.

Біографії авторів

Юрій Федорович Павленко, Національний науковий центр "Інститут метрології"

Науковий центр електромагнітних вимірювань, головний науковий співробітник, доктор технічних наук

Павло Іванович Неєжмаков, Національний науковий центр "Інститут метрології"

Генеральний директор, доктор технічних наук, доцент

Наталя Михайлівна Маслова, Національний науковий центр "Інститут метрології"

Науково-дослідна лабораторія електрики та магнетизму, старший науковий співробітник

Валерій Володимирович Анікін, Національний науковий центр "Інститут метрології"

Науково-дослідна лабораторія електрики та магнетизму, провідний науковий співробітник

Посилання

Кротков И.Н. Точные измерения электрических емкости и индуктивности / И.Н. Кротков. – М.: Изд-во стандартов, 1966. – 272 с.

Thompson A.M. A new theorem in electrostatics and its application to calculable standards of capacitance / A.M. Thompson, D.G. Lampard // Nature. – 1956. – V. 177, № 4515. – Р. 888.

Lampard D.G. // Proc. IEEE Monograph 216M. – 1957. – 271. – 104 c.

Clothier W. // Metrologia. – 1965. – № 2.

Schurr J. The ac quantum Hall resistance as an electrical impedance standard and its role in the SI / J. Schurr, F. Ahlers, B.P. Kibble // Meas. Sci. Technol. – 2012. – 23. – 124009 (20 pp).

Klitzing K. New method for high accuracy determination of the fine structure constant based on quantized-Hall resistance / K. Klitzing, G. Dorda, M. Pepper // Phys. Rev. Lett. – 1980. – V. 45, № 6. – Р. 494–497.

Кибис О.В. Квантовый эффект Холла / О.В. Кибис // Соросовский образовательный журнал. – 1999. – № 9. – С. 89–93.

Melcher J. Comparison of precision ac and dc measurements with the quantized Hall resistance / J. Melcher, P. Warnecke, R. Hanke // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 1993. – 42. – 292–4.

Kibble B.P. A novel double-shielding technique for ac quantum Hall measurement / B.P. Kibble, J. Schurr // Metrologia. – 2008. – 45. – L25–7.

Schurr J. Realizing the farad from two ac quantum Hall resistances / J. Schurr, V. Burkel, B.P. Kibble // Metrologia. – 2009. – 46. – 619–28.

Progress towards the electron counting capacitance standardat PTB / H. Scherer, S.V. Lotkhov, G.D. Willenberg, B. Camarota // IEEE Trans. Instrum. Meas. – 2009. – 58. – Р. 997–1002.

Реформа SI і її вплив на систему відтворення електричних одиниць / П.І. Неєжмаков, Ю.Ф. Павленко, Н.М. Маслова, В.В. Анікін // Український метрологічний журнал. – 2013. – № 1. – С. 3–10.

Electrical Units in the New SI: Saying Goodbye to the 1990 Values / N. Fletcher, G. Rietveld, J. Olthoff [et al.] // NCSLI Measure J. Meas. Sci. – 2014. – Vol. 9, № 3. – Р. 30–35.

Державний первинний еталон одиниці електричного опору / Ю.Ф. Павленко, Г.С. Сидоренко, В.В. Анікін [та ін.] // Український метрологічний журнал. – 1998. – Вип. 4. – С. 26–28.

Ахмадов А.А. Перспективы совершенствования системы метрологического обеспечения средств измерений параметров электрических цепей / А.А. Ахмадов, М.Н. Сурду // Український метрологічний журнал. – 1996. – Вип. 4. – С. 23.

Державний еталон одиниць електричної ємності і тангенса кута втрат / О.А. Ахмадов, С.О. Ахмадов, Р.А. Харжевський, М.М. Сурду // Український метрологічний журнал. – 2007. – № 3. – С. 24–30.

##submission.downloads##

Опубліковано

2015-03-24

Номер

Розділ

Статті