Методика визначення поправкових коефіцієнтів спектральної розбіжності для світлової чутливості фотометрів при вимірюванні характеристик світлодіодних ламп
DOI:
https://doi.org/10.24027/2306-7039.2.2024.307249Ключові слова:
світловий потік; світлова чутливість; поправковий коефіцієнт спектральної розбіжності; інтегруючий сферичний фотометр; світлодіодне джерело світла; стандартна лампа; стандартний фотометрАнотація
У статті описано проблеми, пов’язані з метрологією світлодіодних джерел. Основною проблемою є різниця між спектрами світлодіодних ламп і спектрами еталонних ламп, які в основному є високостабільними й добре відтворюваними лампами розжарювання. Різниця в спектрах призводить до того, що світлова чутливість відкаліброваного фотометра буде різною для еталонної лампи розжарювання й для світлодіодної лампи, тому що відносна спектральна характеристика чутливості фотометра завжди відрізняється від спектральної чутливості людського ока (V(λ) кривої), яка визначає всі світлові величини. Чим більша різниця між відносною спектральною чутливістю фотометра і V(λ), тим більше буде відрізнятися світлова чутливість фотометра для еталонної лампи й для світлодіодного випромінювача. Ця проблема особливо актуальна для великих сферичних фотометрів, які вимірюють весь світловий потік, що виходить від лампи, а проведення дослідження відносної спектральної характеристики є дуже складним, практично нездійсненним завданням, через великі розміри сфери фотометра, що вимагає великих рівнів потоку для забезпечення прийнятного рівня сигналу на приймачі сфери. Тому найбільш актуальним завданням є розробка методу визначення поправкового коефіцієнта спектральної розбіжності джерел випромінювання на основі не установок для визначення спектральної чутливості на основі монохроматорів із потужним джерелом випромінювання, а на основі установок з інтегральними джерелами випромінювання. Світлові потоки від інтегральних джерел випромінювання забезпечують достатній сигнал для приймача інтегруючої сфери.
У статті описано розроблений в ННЦ “Інститут метрології” метод експериментального визначення поправкового коефіцієнта спектральних розбіжностей світлової чутливості фотометра для вирішення завдань метрологічного забезпечення світлодіодних джерел. Наведено методи експериментального дослідження поправкових коефіцієнтів спектральної розбіжності для світлової чутливості засобів вимірювання світлових величин світлодіодних джерел випромінювання.
Посилання
Ohno Y. NIST Measurement Services: Photometric Calibrations. NIST Special Publication 250-37.
Ohno Y. New Method for Realizing a Total Luminous Flux Scale using an Integrating Sphere with an External Source. J. IES, 1995, vol. 24-1, рр. 106–115.
Ohno Y. Realization of NIST Luminous Flux Scale Using an Integrating Sphere with an External Source. Тhe CIE Proceedings, 23rd Session. New Delhi, 1995.
Ohno Y. Realization of NIST 1995 Luminous Flux Scale using Integrating Sphere Method. J. IES, 1996, vol. 25-1, pp. 13–22.
Huriev M., Neyezhmakov P. Method of Reproduction of the Luminous Flux of the LED Light Sources by a Spherical Photometer. J. Phys.: Conf. Ser., 2018, 972 012028. doi: https://doi.org/10.1088/1742-6596/972/1/012028
CIE ISO/CIE 19476:2014. Characterization of the Performance of Illuminance Meters and Luminance Meters. 50 p.
Huriev M., Khlevnoy B., Tolstykh G., Ivashin E., Gorchkova T. Bilateral key comparison on luminous flux COOMET.PR-K4.1. final report. Metrologia, 2017, vol. 54. doi: https://doi.org/10.1088/0026-1394/54/1A/02004
Zalewski E.F., Geist J. Silicon photodiode absolute spectral response self-calibration. Appl. Opt., 1980, vol. 19(8), pp. 1214–1216. doi: https://doi.org/10.1364/AO.19.001214
Geist J., Zalewski E.F., Schaefer A.R. Spectral response self-calibration and interpolation of silicon photodiodes. Appl. Opt., 1980, vol. 19(22), pp. 3795–3799. doi: https://doi.org/10.1364/AO.19.003795
Geist J., Baltes H. High accuracy modeling of photodiode quantum efficiency. Appl. Opt., 1989, vol. 28(18), pp. 3929–3939. doi: https://doi.org/10.1364/AO.28.003929
Zalewski E.F., Duda C.R. Silicon photodiode device with 100% external quantum efficiency. Appl. Opt., 1983, vol. 22(18), pp. 2867–2873. doi: https://doi.org/10.1364/ao.22.002867
##submission.downloads##
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
ПОЛІТИКА, ЯКА РЕКОМЕНДУЄТЬСЯ ЖУРНАЛАМ, ЩО ПРОПОНУЮТЬ ВІДКРИТИЙ ДОСТУП З ЗАТРИМКОЮ
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи, яка через 12 місяців з дати публікації автоматично стає доступною на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
